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3120A 相噪短稳分析盒

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3120A相噪短稳分析盒

        Microsemi(并购了Symmetricom公司)公司开发了直接数字相位噪声测量技术,这项技术已经扩展到一个测试探头。精确的相噪和阿伦方差测量成本显著降低。

        Microsemi(并购了Symmetricom公司)的3120A是一款高性能的测试探头,可以测量射频源端口和双端口设备的振幅、相位和频率的稳定(频率:0.5MHz—30MHz)。

3120A的测试内容如下:

  • 实时“带状图”相和具有亚皮秒(PS)精度和频率的差异
  • 绝对频率计数为:13+位每秒,最大17位(升级选项))
  • 阿伦方差(ADEV)通常小于1E-13(t=1s)
  • 改进的阿伦方差(MDEV)方面,哈德曼方差(HDEV),时间偏差(TDEV)。(升级选项)
  • RMS集成的相噪和相噪偏移量为:
  • 1Hz—100kHz,水平低于-170dBc/Hz(升级选项)
  • AM噪声偏移量为:1Hz—100kHz,<-170dBc/Hz(升级选项)
  • RMS集成的抖动时间小于100fs,残余抖动为:1Hz—100kHz(升级选项)

        3120A需要一台PC主机和用户提供的外部参考振荡器。几乎所有方面的测量性能的准确度、重复性、本底噪声和杂散响应都依赖于能够提供最好的参考信号,如:采用一个独立的低噪声OCXO以进行相位噪声和调幅噪声测量等。

主要特点:

  • 独立输入和参考频率为:0.5MHz-30MHz
  • PM噪声的互相关测试偏移量为:1Hz-100kHz
  • 阿伦方差(ADEV)通常为:<1E-13(t=1s)
  • SFDR指定为:-100dBc,,通常低于-120dBc
  • 频率和相位差图以一百万+点记录描绘振荡器漂移
  • 包括数字I/O拓展端口和独立ADCs输入
  • 易于使用的测量软件,完整多线程高性能测量
  • ASCII文件格式拥有灵活的数据导入和导出选项
  • 可选功能(软件升级)
  • AM噪声
  • MDEV、HDEV、TDEV和抖动测量的信号统计特性
  • 频率计数器许可协议
  • 模板测试许可
  • 所有受支持的测量,都具有用户可定义的限制线

主要优点 :

  • 在几秒内能显示出测试结果
  • 支持不同频率的输入和参考的测试
  • 高性价比的解决方案
  • 无测量的校准要求,节省时间
  • 易于具有直观图形用户界面的软件使用
  • 小尺寸

   


 

3120A主要指标:

功能及指标

3120A

带宽

0.5~30MHz(正弦波)

输入信号电平

-5~20dBm

相噪测量准确度

NA

短稳指标

<1E-13@1(0.5Hz带宽)

系统底噪

10MHz输入)

1Hz@5MHz<-140dBc

1Hz@25MHz<-130dBc

10kHz@5MHz<-170dBc

10kHz@25MHz<-165dBc